軸鍛件的探傷

  軸鍛件的探測(cè)轉(zhuǎn)子軸一般應(yīng)在鍛坯經(jīng)粗加工后，即進(jìn)行全面探測(cè)，否則成品形狀復(fù)雜不易探測(cè)。轉(zhuǎn)子軸以一定的轉(zhuǎn)速旋轉(zhuǎn)，即可作周向連續(xù)探測(cè)。這時(shí)要區(qū)別固定波形和游動(dòng)波形，即注意觀察缺陷波在熒光屏?xí)r間軸上的游動(dòng)和幅度變化的情況。當(dāng)缺陷面積較大又處于軸中心孔附近時(shí)，容易產(chǎn)生游動(dòng)波形，即探頭相對(duì)沿軸的圓周方向移動(dòng)時(shí)，缺陷波在底波(中心孔反射波)前后游動(dòng)且幅度變化。

  一般地說(shuō)，切向缺陷的反射波是不游動(dòng)的，稱(chēng)固定波形;徑向缺陷的反射波是游動(dòng)的，稱(chēng)游動(dòng)波形。當(dāng)探頭在有切向缺陷的轉(zhuǎn)子軸的圓周上相對(duì)移動(dòng)時(shí)，熒光屏上可獲得位置較固定的缺陷波，缺陷波只在底波之前移動(dòng)，其移動(dòng)范圍甚小，只有一個(gè)波幅高值，在高值后波幅逐漸降低，直至消失。當(dāng)探頭在有徑向缺陷的轉(zhuǎn)子軸的圓周上相對(duì)移動(dòng)時(shí)，缺陷波在底波前后游動(dòng)范圍較大，在底波之前和之后都有消失點(diǎn)，并有二個(gè)波幅高值(二個(gè)高值出現(xiàn)在熒光屏的同一位置上)。探測(cè)時(shí)，也可用直探頭和斜探頭，同時(shí)進(jìn)行。

  當(dāng)轉(zhuǎn)子軸運(yùn)轉(zhuǎn)一階段后需探側(cè)時(shí)，則要采用專(zhuān)門(mén)的中心孔\探頭在軸的內(nèi)孔進(jìn)行。用斜探頭來(lái)探測(cè)孔壁上的徑向及橫向缺陷;用直探頭來(lái)探測(cè)縱向缺陷，還可用表面波探頭來(lái)探測(cè)軸孔表面上的徑向或橫向缺陷。用這種方法，可以監(jiān)視轉(zhuǎn)子軸內(nèi)部缺陷的發(fā)展。探頭可由機(jī)械傳動(dòng)裝置旋轉(zhuǎn)送入孔內(nèi)，一般探頭架上有二個(gè)斜探頭以探測(cè)近內(nèi)孔的缺陷，并有二個(gè)直探頭以探測(cè)遠(yuǎn)距離的缺陷以及監(jiān)視底波訊號(hào)。此法適用于探測(cè)內(nèi)孔直徑大于60毫米的轉(zhuǎn)子軸。

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